machine à faisceau d ions en indonésien

FIB – Faisceau d'ions focalisés

Le FIB – Focused Ions Beam ou Faisceau d'Ions Focalisés – est un système de gravure ultra fine de précision de l'ordre de la dizaine de …

Analyses par faisceaux d'ions et contrôles non-destructifs

L'expression « analyse par faisceaux d'ions » (Ion Beam Analysis, IBA) fait référence à l'ensemble des techniques basées sur l'interaction d'un faisceau de particules chargées, …

Respirer plus aisément : l'Indonésie s'emploie à rendre …

technique nucléaire d'analyse qui fait appel à un faisceau d'ions − c'est-à-dire un faisceau de particules chargées − pour obtenir des informations sur la composition élémentaire …

Série ZEISS Crossbeam

La série Crossbeam comprend la colonne à faisceau d'ions focalisés de nouvelle génération, Ion-sculptor qui se caractérise par des courants élevés pour un débit …

Usinage ionique, machine de polissage par faisceau d'ions, …

le polissage par faisceau d'ions se révèle être la technologie ultime pour réduire les rugosités de surface. Alliance Concept conçoit et fabrique des usineurs ioniques …

Comment les faisceaux d'ions focalisés façonnent la matière …

Dans cet article, nous avons tenté de présenter les divers aspects de la technologie des faisceaux d'ions focalisés en tant qu'outil de micro et de nanostructuration ayant la …

Machines de dépôt assisté par faisceau d'ions

Trouvez facilement votre machine de dépôt assisté par faisceau d'ions parmi les 24 références des plus grandes marques sur DirectIndustry, le spécialiste de l'industrie …

Plate-forme de microscopie électronique (MEB-FIB)

La plateforme de Microscopie Electronique MEB-FIB de l'IMPMC propose son expertise en matière de microscopie Electronique à Balayage (MEB) et Faisceau …

Laboratoire d'analyse par FIB MEB

Le FIB MEB est une technique avancée combinant un microscope électronique à balayage (MEB) avec un faisceau d'ions focalisé (FIB, pour Focused Ion Beam). Cette …

TESCAN ANALYTICS

La FIB (Focused Ion Beam) est un faisceau d'ions focalisés permettant un micro-usinage de la surface de l'échantillon. La FIB Ga ou Xe est utilisée pour usiner localement la …